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ADI.于常涛

活性电子束探测技术对现有失效分析过程的补充

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<strong>摘要:</strong>

随着集成电路(IC)的复杂度不断提高,使用额外的成熟且有效的失效分析技能的能力变得重要起来。活性电子束探测是行之有效的微电子失效分析方法,可通过适当配置的扫描电子显微镜(SEM)来应用。在现有失效分析实验室中,我们检查了电阻对比成像(RCI)和电子束感应电流(EBIC),并成功将其用作失效点隔离技术。从这些技术获得的结果得到了其它失效分析方法的支持,例如光学显微镜和曲线轨迹分析等。最后,本文证明电子束探测技术有助于增强现有失效分析过程的深度。

<strong>I. 引言和背景 </strong>

<strong>扫描电子显微镜</strong>

安全、高效、节能、联通,设备状态监控的正确打开方式

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一月,一年的初始,各种总结、行业发展趋势预测吸引着大家的眼球,该评奖的评奖、该颁奖的颁奖,好不热闹!

这不,『2018 智能制造&中国运动控制行业发展高峰论坛暨颁奖盛典』已经拉开了帷幕,大会聚焦当前新形式下,就伺服与运动控制产业的发展、行业走势、国内外品牌动态等热点议题展开了热烈的讨论。

ADI 亚太区市场经理于常涛(Roger)在今天下午的分论坛一『智能时代的使命-技术应用篇 』为参展者带来主题演讲【ADI设备状态监控解决方案】,以下我们要分享的是 Roger 演讲的部分内容,很精彩不要走开哦~

以工业4.0和物联网为核心概念推动的产业升级促使半导体技术的迁移和升级。其中工业4.0对于传统的工业控制与自动化方案提出了安全、高效、节能、联通的要求,这也是这个行业的普遍发展趋势。ADI也是从这几个方面来提供有差异化的解决方案的。

ADI正在与客户密切合作,帮助设计工程师开发能效和产量最高的电机驱动和伺服控制系统,提供丰富的连接解决方案,同时满足最严格的安全标准,并可加快产品上市时间。